數字式四探針測試計/數字式四探針測試儀 型號：SZB-SX1934
產品點 四探針測試儀是根據單晶硅物理測試方法家標準并參考美A.S.T.M 標準*的半導體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）測試用儀器。 儀器以大規模集成電路為核心件，采用旋扭式開關控制，及各種作狀態LED示。應用微計算機術，使得測量讀數更加直觀、快速。整套儀器體積小、耗低、測量精度、測試速度快、穩定性好、易操作。 測量范圍 電阻率/Range：10-4—105Ω/□(可擴展/extended range) 方塊電阻(薄層電阻) /Sheet resistance：10-3—106Ω/□ 電阻/resistance：10-6—105Ω 可測晶片直徑（*） φ100mm(標配)，方形230×220mm(*) *電阻測量誤差(按JJG508-87) 0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±0.3%讀數±2個字 外形尺寸 400mm×440mm×120mm 儀器重量 電氣主機：約4kg 測試臺：約5kg 測試環境 溫度：23±2℃ 相對濕度：≤65％； 無頻干擾 無強光照射 電源 220V±10%(50Hz) 耗≤35W 備注 具備電腦接口 探頭 SZB-Sx系列四探針探頭是采用綜合性能優異的分子材料、耐磨和硬度的探針研制的測量數據穩定、可靠、準確度、耐用性能好四探針探頭。所有術標符合家標準，同時符合ASTM標準有關規定。 間距：1±0.01mm； 針間緣電阻≥1000MΩ； 機械游移率:≤1.0%； 探針壓力：TZT-9A/9B: 12-16牛頓（總力） TZT-9C/9D 5-8 牛頓（總力）