聲波探傷試塊

聲波探傷試塊

LY-CSK-IA標(biāo)準(zhǔn)試塊/CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊/CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊/CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊是中華人民共和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊JB4730-2005

CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊、CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊適用于板厚6~250mm的碳素鋼、低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的聲檢測和分。
CBI標(biāo)準(zhǔn)試塊：階梯（3~22mm），板厚≤20mm雙晶直探頭試塊 
CBII標(biāo)準(zhǔn)試塊：1＃~6＃套共6塊，板厚＞20mm單直探頭試塊，件檢測距離小于45mm時，應(yīng)采用CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊。 
CSI標(biāo)準(zhǔn)試塊：1＃~4＃套共4塊。 
CSII標(biāo)準(zhǔn)試塊：套4塊 
CSIII標(biāo)準(zhǔn)試塊：合套14塊 
奧氏體鋼鍛件試塊：套27塊（來料加） 
LY-CSK-1A：材料（P91、不銹鋼、鋁合金）配有LY-CSK-IA用支架