半導體粉末電阻率測試儀

半導體粉末電阻率測試儀/粉末電阻率測試儀 型號：HHY8-FZ-2006

本儀器是為了適應當前迅速發(fā)展中的分子半導電納米材料電阻率測試需要,參照有關際標準*的。 儀器的電流輸出為 10 μA - 100 mA ，電阻率測試范圍為 10 ^-2 - 10 ⁵ Ω cm ，直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和

穩(wěn)定性大大增強，更方便于用戶， 而且價格低廉、實惠。配置不同的測試架可以對半導體粉末、分子納米粉末和固態(tài)金屬行電阻、電阻率多用途的測量。

適用于有機、無機半導體粉末材料(包括納米)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料，別適合于太陽能多晶硅、硅粉質量的測量、分選和質量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有精度加壓系統(tǒng), 度測量的測試臺和儀器組成.

儀器主要包括電氣箱和測試架兩分，電氣測試分由精度直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器， 加壓機構和粉末標準容器組成。壓力機構采用手動操作、壓力平穩(wěn)。本儀器具有測量精度，穩(wěn)定性好，重復性好，使用方便等點， 并有自校能。

本儀器采用際通用的電流-電壓降法即四端子測量法，可以消除電與粉末接觸產生的接觸電阻誤差，還可以消除聯(lián)接系統(tǒng)所帶來的誤差， 克服了以往傳統(tǒng)的二端測量粉末電阻率儀器的弊病，真實、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性好。

本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、等院校、科研門、是檢驗和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質量的種重要具。

術參數(shù)；

1. 測量范圍：
   • 電阻 10^-4 - 10⁵ Ω, 分辨率 10^-4 Ω
   • 電阻率 10^-4 - 10⁵ Ω.cm，分辨率 10^-4 Ω.cm
   測量誤差 ±（0.3% 讀數(shù) + 2 字）
2. 測量電壓量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 μV
   測量精度: ±（0.3% 讀數(shù) + 2 字）
3. 測量電流：0 - 100 mA 連續(xù)可調，
   電流量程：10 μA, 100 μA, 1 mA, 10 mA, 100mA
4. 試樣粒度：40 目以下 - 60 目以上（標準篩網(wǎng)）納米粉末
5. 試樣容器：內腔Φ16.30 ± 0.1mm
6. 試樣度：16mm ± 0.5mm 
   測量誤差：±0.1mm
7. 取樣壓力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm2 ± 0.5 kg/cm2)
   壓力量程：0 - 100 kg 可調
8. 顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數(shù)字顯示,并自動顯示單位和小數(shù)點
9. 電源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 率消耗 < 150W 消耗
10. 外形尺寸電氣箱：440mm×120mm×320mm
11. 備有粉末測試架和固態(tài)標準樣品測試臺供選用

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