*四探針電阻率測試儀

*四探針電阻率測試儀  型號：HAD-S2663A

HAD-S2661/2662/2663 系列*四探針電阻率測試儀，可根據不同材料特性需要，有多種測試探頭可供選擇。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導電塑料等硬質材料的電阻率和方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測試柔性材料導電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導電膜（ITO膜）、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導體材料的電阻率和方阻。儀器適用于半導體材料廠、高等院校和科研單位對導體、半導體材料導電性能的測量。

性能特點

v 超大液晶人性化操作界面

v 多種測量參數可選

v 測量數據自動保持功能

v 超快測量并顯示讀數

v 量程有自動和手動雙模式

v 檔號顯示及檔計數功能

v 兼容多種材料測量

v 專業的通訊接口可以與 PC 進行數據通訊及對儀器的遠程控制

應用

l 金屬片、導電金屬箔材料、金屬箔上涂層

l 單晶硅、多晶硅、硅片、硅晶棒、硅錠、硅塊料

l 石墨烯、鋰電池電極、氫燃料電池雙極板、太陽能電池片

產品型號 HAD-S2661 HAD-S2662 HAD-S2663 HAD-S2663A  

HAD-S2661  電阻率 10μΩ?cm－200kΩ?cm     電阻率 10μΩ?cm－200kΩ?cm  模擬電阻 10μΩ－200kΩ

HAD-S2662  電阻率  1μΩ?cm－2MΩ?cm  電阻率  10μΩ/sq－2MΩ/sq  模擬電阻 1μΩ－2MΩ

HAD-S2663  電阻率  1μΩ?cm－20MΩ?cm 電阻率   10μΩ/sq－20MΩ/sq  模擬電阻  10μΩ－20MΩ

HAD-S2663A   電阻率   0.1μΩ?cm－20MΩ?cm  電阻率    1μΩ/sq－20MΩ/sq模擬電阻  1μΩ－20MΩ

性能指標

顯示器 高清 LCD 液晶顯示

顯示位數 6 位

精度 電阻率、方阻：4%；模擬電阻：0.1%；

測量功能

量程方式 自動，保持

測量速度 快速: 10 次/秒，中速: 5 次/秒，慢速: 2 次/秒

觸發方式 內部，手動，外部

分選和接口

分選功能 內建比較器：合格、上超和下超

訊響 合格，不合格，關閉

接口配置 RS-232C 接口/HANDLER/USB Device（選件）

一般規格

操作環境 0°C －40°C ，≤90%RH

保證精度環境 23±5℃，≤80%RH

電源要求 198V－242V(AC），47.5Hz－63Hz

功耗 ≤30 VA

尺寸、重量 335 mm(寬) x 120 mm(高) x 320 mm(深) 5.5kg

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