四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。 本儀器的點是主機配置雙數字表，在測量電阻率的同時，另塊數字表（以分之幾的精度）適時監測程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流度穩定。本機配有恒流源開關，在測量某些箔層材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生，更好地保護箔膜。儀器配置了本公司的產品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度。本機如加配HQ-710E數據處理器，測量硅片時可自動行厚度、直徑、探針間距的修正，并計算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的*百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習庋。給測量帶來很大方便。 2、主機術能數 （1）測量范圍： 可測電阻率：0.0001～19000Ω•cm 可測方塊電阻：0.001～1900Ω•□ （2）恒流源： 輸出電流：DC 0.001～100mA 五檔連續可調 量程：0.001～0.01mA 0.01～0.10mA 0.10～1.0mA 1.0～10mA 10～100mA 恒流精度：各檔均低于±0.05% （3）直流數字電壓表： 測量范圍：0～199.99mV 靈敏度：10μV 基本誤差：±（0.004%讀數+0.01%滿度） 輸出電源：≥1000ΩM （4）供電電源： AC 220V±10% 50/60 Hz 率：12W （5）使用環境： 溫度：23±2℃ 相對濕度：≤65% 無較強的電場干擾，無強光直接照射 （6）重量、體積： 主機重量：7.5kg 體積：365×380×160（單位：mm 長度×寬度×度） 備注： 等測量時（測電阻率），精度<3% 電氣測量時（測電阻），精度在0.3%以內 備注： 儀器包括：主機臺；測試架（包括臺面）個；四探針頭1個