X熒光光譜儀 型號；H19608
H19608貴金屬檢測儀使用效而實用的正比計數盒探測器，以實在的價格定位，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且新的更具有現代感的外形、結構及色彩*，使儀器操作更人性化、更方便。
性能點
業貴金屬檢測、鍍層厚度檢測。 **貴金屬檢測軟件，與儀器硬件相得益彰。 意多個可選擇的分析和識別模型。 相互立的基體效應校正模型。 多變量非線性回收程序。
術標
元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。 測量對象：固體、液體、粉末 分析檢出限可達：1ppm。 分析含量般為：1ppm到99.9％。 多次測量重復性可達：0.1％。 長期作穩定性為：0.1％。
標準配置
單樣品腔。 正比計數盒探測器。 信號檢測電子電路。 低壓電源。 X光管。
應用域
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。 金屬鍍層的厚度測量和電鍍液和鍍層含量的測定。 主要用于貴金屬加和飾加行業；銀行，飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
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