光纖光譜儀應用綜合實驗儀 型號:HAD-RLE-SA02
、光纖光譜儀應用綜合實驗儀 實驗簡介
光譜儀式光譜檢測*常用的設備。將光纖與CCD術應用于微型光譜儀，可以大大提其穩定性和分辨率，微型光纖光譜儀的便攜性和性價比，使得光譜檢測從實驗室走向檢測現場，拓展了光譜儀的應用范圍。愛提斯開發了系列的光譜檢測實驗，適用于物理/化學相關業本科生業實驗應用。
二、光纖光譜儀應用綜合實驗儀 實驗內容
1、利用反射光譜測定印刷品顏色；
2、利用透射光譜測定濾光片透過率；
3、利用等離子體光譜測定氣體成分；
4、利用白光干涉測定薄膜厚度測量。
三、儀器配置與術參數
1、光纖光譜儀
分辨率：2.4nm@350～1100nm；
靈敏度：40photons./count@600nm; 探測器：CCD線陣2048個像素；
信噪比：200:1； 動態范圍：2000:1；
A/D轉換卡：16位，2MHz； 積分時間：1.1ms～10min；
接口：UISB2.0,480Mbps； 采樣速率：1.1ms/scan；
外型尺寸：175mm×110mm×44mm； 重量：720g。
2、標準光源：
波長范圍360nm～2500nm，率穩定性±0.1%，色溫2850K。
3、積分：內直徑50mm，采樣口徑8mm。
4、透射光譜測試組件：
準直鏡：Φ5mm，SMA905接口；
耦合鏡：Φ5mm，SMA905接口；
待測鏡片：T=0.2～50%,Φ25.4mm。
5、薄膜測厚樣品組件：
介質膜，口徑Φ25.4mm。
6、等離子體：惰性氣體放電輝光。
7、顏色測量樣品：印刷品及標準白板。
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