![]() | 產(chǎn)品名稱:探針測(cè)試臺(tái)/測(cè)試臺(tái)/中測(cè)臺(tái)/點(diǎn)測(cè)機(jī) 型 號(hào):H22175 |
探針測(cè)試臺(tái)/測(cè)試臺(tái)/中測(cè)臺(tái)/點(diǎn)測(cè)機(jī) 型號(hào);H22175
H22175
型探針測(cè)試臺(tái) 、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。
| 術(shù) 標(biāo) :
| ||||||||||||
|
|