數字式四探針檢測儀 型號：HHY8-SZT-2000
HHY8-SZT-2000型數字式四探針測試儀是根據四探針測試原理研究成的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀
半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻行測量，可以從10-6--105Ω—cm量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質量監測的需儀器。